FE-TEM(투과전자현미경)은 전자가 시료에 입사되어 상호작용을 한 후 시료를 통과하여 투과빔과 회절빔이 나올 때, 빔의 특정부분을 이용하여 명시야상(bright field image), 암시야상(dark field image), 회절도형(diffraction pattern)등을 얻을 수 있는 장비이다. 이것은 약 100만 배율까지의 고배율 영상을 얻어 시편의 미세구조를 직접 볼 수 있으며 일반적인 결정 결함구조를 관찰하는데 유용하다.

중앙부분의 투과된 빔과 회절된 빔을 함께 사용하여 얻어지는 고분해능상을 이용하여 격자결함 주위의 원자배열을 밝혀낼 수 있다. 

회절도형은 결정구조에 따라서 일정하게 배열된 점이나 환모양의 띠로 나타난다. 이를 분석하면 시료의 결정 관련 정보를 얻을 수 있다. DP(회절상)로서 결정의 격자 상수와 대칭성 등을 규명할 수 있다.

Electron gun : ZrO/W(100) Schottky emitter

Acceleratin voltage range : 300kV

Magnification: up to 1,000kx

Point resolution : 0.2nm

Informaion limit : 0.14nm

HAADF detector for STEM

-. 영상(Bright field & Dark field image)을 통한 미세조직 및 결함관찰

-. 회절형상(Diffraction pattern)을 이용한 미세조직 및 결정구조 분석

* 시료에 대한 자세한 설명은 담당자 메일로 전달 부탁드립니다.

(1) 대면 (직접 방문) / 비대면 (시료 발송)

(2) 실제 의뢰자 연락처 또는 메일 주소

(3) 시료 종류, 성분, 입자의 모양, 사이즈

(4) 관찰 조건 (원하는 배율, Scale 등)

(5) 분석 방법 (BF image, Diffraction, STEM 등)

(6) 참고 자료 (Reference image, 이전 분석 결과, 논문 등)

* 자성체, 고분자, 유기물 함량이 높은 시료, 점성이 있는 시료는 분석 불가 합니다.

* 시편 전처리 (Grid 제공 등)가 필요한 경우, 사전에 반드시 담당자에게 연락 바랍니다. ( 최소 1일 전까지는 샘플 송부 , 전처리 비용 별도)

* 샘플 송부 주소 :  16499 경기도 수원시 영통구 월드컵로 206 에너지 센터 B107호 (전자현미경실)

-. 시료 준비 (시료의 특성 및 목적에 따라 다를 수 있습니다.)

1. 시료는 고운 파우더 상태로 준비 

2. 적절한 Solvent (물, 에탄올 등)에 분산

3. Grid의 어두운 면에 Dropping 하여 최소 12시간 Dry oven에서 건조

* 분석료 한시적 인하 ('25.01.02 ~ '25.08.31)

-  교외 : 150,000원/시간 

-  교내 : 75,000원/시간

-  전처리 (Grid) : 30,000원/ea 

* 예약취소 : 당일 예약 취소 시 분석료의 100 %

* 급행분석 : 긴급히 분석을 요청하는 경우 분석료의 50% 추가 (담당자협의 필요)

* 가속 전압이 300 kV 장비이므로 바이오나 유기 시료 (시료 손상) 는 측정이 어려울 수 있습니다. 

* EDS 분석은 불가합니다. ( BF image, STEM, Diffraction Pattern 가능)

* TEM 은 고진공 장비로 장비 보호를 위해 시료 교환은 1시간 당 최대 3개 이하로 제한합니다. 

* 매일 9 :00 ~ 10:00 / 17:00  ~ 18:00 에는 TEM 장비 점검 및 안정화 시간입니다.  

* 대면 분석을 원하실 경우 담당자와 분석 의뢰 일자 조정 후 예약 부탁드립니다. 

* 분석 시 전화 응대가 어려울 수 있으니 이 점 양해 부탁드립니다.

* 예약 시간 단위는 1시간 입니다. (예시 - 13:00 ~ 14:00, 분석 시간 부족으로 원하는 결과를 획득하지 못하는 경우도 있으니 담당자와 확인 후 예약 바랍니다.)

* 예약 후 개인 사정으로 분석 취소할 경우, 적어도 24시간 전에는 미리 메일로 담당자에게 연락 바랍니다. 당일 취소 및 변경 시에는 분석 비용을 청구합니다. 유의해주세요.