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X-선 형광분석기

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X-선 형광분석기 (WD-XRF)
X-선 형광분석기 (WD-XRF)
  • 기기명(한글) X-선 형광분석기
  • 기기명(영문) Wavelength Dispersive X-ray Fluescence Spectrome
  • 모델명 ZSX Primus
  • 제작사 Rigaku
1. 특징
본 장비는 여기 상태의 전자가 방출하는 빛을 측정하여 유기물 및 무기물에서의 특정 원소를 정성/정량 분석할 수 있는 장비이다.
X-선관에서 발생한 연속 X-선이 시료에 조사되면 시료를 구성하고 있는 원소의 궤도 전자가 이탈하게되고, 이탈된 빈 공간은 상위궤도의 전자가 전이하여 채워진다. 이때 궤도간 전자 전이에 의해 발생한 에너지는 빛의 형태로 발산되고, 이를 형광 X-선이라고 한다.
적절한 분광결정에 의해 파장에 따라 일정한 각도로 회절된 특성 X-선의 강도를 검출기로 측정하며, 경원소 B(원자번호 : 5)에서 U(원자번호 : 92)까지의 전 원소를 측정할 수 있는 장점을 가지고 있다.
2. 사양
* X-ray generator : 4 KW-60 KV-150 mA (Stability: ±0.005 %)
* X-ray tube type : End-window type Rh target
* Spectrometer analysis element range : Be(4)~U(92)
* Mapping system : 0.5mm diameter micro area analysis
* Detector : SC(Ti[22]~U[92]), F-PC(Be[4]~U[92])
* Goniometer angular range : SC[5 to 118], F-PC[13 to 148]
3. 활용분야
재료의 원소 조성 파악을 위한 필수적 분석법로 사용되고 있음
-. 금속, 유·무기화합물, 복합재료 등의 정성/반정량 분석
-. 유기물에 포함되어 있는 미량성분 정성/반정량 분석
4. 시료준비
* 측정 가능한 샘플 형태
-. 벌크, 필름, 코팅 등 (표면 단차가 적은 샘플)
-. 건조된 파우더 샘플
-. 부유물이 없는 액상 샘플

* 시료량
-. 벌크 등 : 1cm x 1cm ~ 3cm x 3cm, 총 높이 5cm 미만
-. 파우더 : g 이상 (밀도에 따라 일부 차이가 있음)
-. 액상 : 최소 500ul
⇒ 위 조건에 부합하지 않은 경우, 사전 협의 후 진행 여부 결정
5. 사용요금
1. 정성 분석 : 30,000원/시료
2. 반정량 분석 : 40,000원/시료
3. 전처리 : 10,000원/시료
* 전처리는 할인 미적용
6. 유의사항
* 정성/반정량 분석 가능
-. Be, B, C 측정 시 문의

* 분석 결과는 원소(metal, oxide form)와 함량(mass %)으로 제공