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분석실 안내
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    • 기기명(한글)
      주사전자현미경(SEM-NPGS) (SEM-NPGS)
    • 기기명(영문)
      Scanning Electron Microscope-Nano Patten Generation System
    • 모델명
      JSM-6380
    • 제작사
      JEOL (Japan)
    • 도입시기
      2005-07-01
    • 설치장소
      에너지센터 408호/직접사용장비
    • 담당자
      곽현정
    • 현재기기상태
      활용
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    - 전자빔을 시료 표면에 주사시켜 시료 표면에서 발생하는 다양한 신호를 검출하여  물질의 형태 및 구조 등의 정보를 얻을 수 있는 분석기기이다. 시료의 형태를 알아보기 위한 확대 범위는 최대 10만 배까지이고, 시료는 비파괴 분석법을 사용하므로 몇 번이고 재사용이 가능하다. 주사된 이미지는 1024X768pixel 크기의 JPEG fmated file로 전송된다.
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