| |
장비 상세보기 홈 > 분석실 안내 > 장비 상세보기
  • 기기명(한글)
    X-선 형광분석기(WD-XRF) (WD-XRF)
  • 기기명(영문)
    Wavelength Dispersive X-ray Fluescence Spectrome
  • 모델명
    ZSX Primus
  • 제작사
    Rigaku (Japan)
  • 도입시기
    2007-05-01
  • 설치장소
    에너지센터 403호
  • 담당자
    박민재
  • 현재기기상태
    활용
- X선 형광분석은 40-60kV의 전압하의 X-선관에서 발생한 X-선이 시료(powder pellet또는 glass bead)에 조사되어 시료를 구성하고 있는 원소의 궤도전자를 여기시킨다. 여기상태의 전자가 기저상태로 돌아감으로써 연속적인 전자 재배열이 일어나는 동안 원소의 특성에 따른 형광 X-선이 방출되면, 적절한 분광결정에 의해 파장에 따라 일정한 각도로 회절된 이 특성X-선의 강도를 검출기로 측정하여 각 원소의 정성 및 정량이 가능