- Multi Purpose X-ray Diffractometer는 X-ray를 이용하여 powder의 pattern을 분석하여 단결정 및 다결정 상태의 고체 물질 내부 결정구조를 파악하고 이미 알려진 pattern을 이용하여 임의의 시료의 구성을 알 수 있다. 특정 X-선을 시료에 조사시켜 회절된 회절양상을 이용하여 결정질, 비결정질 재료의 상분석, 결정의 배향성에 대한 물질의 구조해석을 고유의 2θ값으로부터 얻는다. 회절이 일어나는 각도와 회절강도 측정을 통해 물질의 결정상태, 결정 구조, 화학적 결합상태 등 물질구조해석에 활용된다.